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CEM3000強(qiáng)抗電磁干擾性能掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
NS系列磁吸式測針臺階儀通過2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協(xié)同工作,結(jié)合亞埃級分辨率(5 Å)與智能化分析軟件,可精準(zhǔn)測量臺階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
CEM3000高襯度成像掃描電鏡系統(tǒng)憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
中圖儀器3D白光干涉表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
CEM3000高精度掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
VT6000精密共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì),橫向分辨率更高。它具有直觀測量的特點(diǎn),能夠有效提高工作效率,更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的操作。
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