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NS系列磁吸式測針臺階儀通過2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協同工作,結合亞埃級分辨率(5 Å)與智能化分析軟件,可精準測量臺階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數)、膜層厚度及應力分布,為材料研發、工藝優化與質量管控提供可靠數據支持。
CEM3000高襯度成像掃描電鏡系統憑借其簡便的操作系統,讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值,標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
中圖儀器3D白光干涉表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
CEM3000高精度掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統,讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值,標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
VT6000精密共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高。它具有直觀測量的特點,能夠有效提高工作效率,更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實現更準確的操作。
中圖儀器納米形貌觀測掃描電鏡用的鎢燈絲電子槍,發射電流大、穩定性好,以及對真空度要求不高。緊湊的外型,能夠不受場地尺寸制約,真正做到了空間適用性,用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時CEM3000也能根據用戶需求,輕松移機,一臺機器多處開花。
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